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比表面積及孔徑分析儀

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BSD-660比表面及孔徑分析儀

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高精度比表面及孔徑分析儀是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點的吸附量；再通過BET或Langmuir等理論公式計算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線；再通過吸附脫附等溫線的數(shù)據(jù)計算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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BSD-660PS系列比表面積及孔徑分析儀

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型號：BSD-660

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全自動比表面及中孔微孔分布分析儀是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點的吸附量；再通過BET或Langmuir等理論公式計算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線；再通過吸附脫附等溫線的數(shù)據(jù)計算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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